MICROSCOPE

 

6年余り、電子顕微鏡やX線マイクロアナライザーを使った分析業務に携わっておりました。私にとって趣味と実益を兼ねたとても面白い仕事でした。撮影した写真は当然「社外秘」ですので、こちらには私の手元に残る公開可能な3点の写真をご紹介します。

 
   
Sample A A
SampleA 毛髪
装置 走査型 電子顕微鏡(SEM)
日立:HSM-2B
加速電圧 25KV
試料調製 金コーティング

入社して最初に練習で撮影したものです。走査型電子顕微鏡で観察すると、焦点深度が深いため表面の凹凸が立体的にみえます。知る人ぞ知る日立のHSM-2B。もっぱらFE-SEM(S-800)を使っていましたが、うちの職場では、「2B」は欠かせない存在でした。

Sample B B
SampleB ポリプロピレンフィルム(押し出し成形後)
SampleC ポリプロピレンフィルム(熱処理後)
装置 透過型電子顕微鏡(TEM)
日本電子:JEM-100 CX
加速電圧 80KV
試料調製 ミクロトームによって超薄切片作製

透過型電子顕微鏡での最後の仕事となりました。この写真を見ると当時のことを思い出し、上手く撮影できた喜びと疲れとが同時に よみがえります。
Sample C C
  尚、SampleB、Cにつきましては、下記の論文をご参照ください。

Sasanuma, Y.; Abe, A.; Sasanuma, T.; Kitano, Y.; Ishitani, A., "Small-Angle X-Ray Scattering of Distorted Lamellar Structures", J. Polym. Sci., Polym. Phys. Ed., 31, 1179-1186(1993).